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薄膜熱物性試験器
この装置は薄膜材料の熱物性パラメータを試験するために用いられる。薄膜物理は、物体が薄い場合、同じ材料の薄膜状態の物性と容積状態の物性が異なることを指摘しているので、薄膜物性の測定は薄膜状態で行わなければならない。物体表面温度に応じて余弦（または正弦）則で変化する場合の過渡実験モデル。薄膜は有限厚さの
製品の詳細
HCX 09 A薄膜熱物性試験器主な技術パラメータ：
1.熱伝導率範囲：0.05～20 w/m・k
2.計器はデジタル測温を実現し、精度は0.2級より優れている。
3.測定結果、精度±3%
4.計量加熱電力は±1%調整できる。
5.試料の寸法要求：円筒体｛15--30＊5--30 mm。
6.温度と保護雰囲気はユーザーの要求に応じてカスタマイズされる。
7.アダプタコンピュータは全自動テスト分析を実現する。
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